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能量色散X射線分析—般指X射線熒光光譜剖析，使用初級X射線光子或其他微觀離子激起待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分剖析和化學態研討的辦法。按激起、色散和勘探辦法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。根據色散方式不同，X射線熒光剖析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。能量色散X射線分析是確認物質中微量元素的品種和含量的一種辦法，又稱X射線次級發射光譜剖析，是使用原級X射線光子或其它微觀粒子激起待...

紫外分光光度計廣泛應用于食品、藥品、電力、生物研究、教學科研、化學化工、質量監督、水質環保和商檢等各大領域。紫外可見分光光度計，工作原理如下：由于分子中的某些基團吸收了紫外可見輻射光后，發生了電子能級躍遷而產生的吸收光譜。由于各種物質具有各自不同的分子、原子和不同的分子空間結構，其吸收光能量的情況也就不會相同，因此，每種物質就有其*的、固定的吸收光譜曲線，根據這一特性，可對物質進行定性分析。由于物質濃度的不同，吸收光譜上的某些特征波長處的吸光度也不相同，從而通過對物質吸光度或...

電位滴定法是在滴定過程中通過測量電位變化以確定滴定終點的方法，和直接電位法相比，電位滴定法不需要準確的測量電極電位值，因此，溫度、液體接界電位的影響并不重要，其準確度優于直接電位法，普通滴定法是依靠指示劑顏色變化來指示滴定終點，如果待測溶液有顏色或渾濁時，終點的指示就比較困難，或者根本找不到合適的指示劑。電位滴定法是靠電極電位的突躍來指示滴定終點。在滴定到達終點前后，滴液中的待測離子濃度往往連續變化n個數量級，引起電位的突躍，被測成分的含量仍然通過消耗滴定劑的量來計算。使用不...

EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以*可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外，最近幾年在眾多企業中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置...

TMA技術用于測量固體（包括園片、薄膜、粒狀、纖維）液體和凝膠在力作用下的形變性能常用的負荷方式有壓縮、針入、拉伸、彎曲等。探頭由固定在其上面的懸臂梁和螺旋彈簧支撐，通過加馬力馬達對試樣施加載荷。當試樣長度（即試樣管和探頭的相對位置）發生變化時，差動變壓器檢測到此變化，則連同溫度、應力和應變數據，由TMA中央處理機收集后送到TMA工作站進行數據分析。熱機械分析儀的特性：1.使用了新型的高精度、低漂移的位移傳感器。由于高準確度數字位移傳感器的使用，TMA-60/60H的測量準確...

EDX-7000/8000能量色散X射線分析是檢測每個元素X射線特征波長的X射線量進行定量分析。一、什么是X射線熒光光譜儀？EDX-7000/8000能量色散X射線分析是一種剖析技術，可用于確認各種樣品類型（包括固體，液體，漿液和散粉）的化學成分。X射線熒光也用于確認層和涂層的厚度和組成。二、X射線熒光光譜儀背面的原理X射線熒光光譜儀是一種原子發射辦法，在這方面與光發射光譜，ICP和中子活化剖析（γ光譜）相似。X射線管經過發生入射X射線（一次X射線），來激起被測樣品。受激起的...

等離子體發射光譜儀擁有百萬像素CCD真正的二維全譜數據獲取，無需再次測定樣品即可實現事后元素及波長的追加和更改。分析助手功能內置含11萬條譜線的光譜干擾數據庫，可自動分析選擇*譜線，使條件優化更簡單，樣品分析更高效。需要經常進行除塵。特別是計算機、電子控制電路、高頻發生器、顯示器、打印機、磁盤驅動器等，定期拆卸或打開，用小毛刷清掃，并同時使用吸塵器將各個部分的積塵吸除。對光電倍增管負高壓電源線、及計算機顯示器的高壓線及接頭，還要用紗布沾上少許*小心的抹除積炭和灰塵。磁盤驅動器...